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          掃描電鏡

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          產品參數

          產品編號: 日本電子掃描電鏡JSM-IT100所屬品牌: JEOL
          產品型號: JSM-IT100 額定功率:按實際方案提供
          所屬類別: 掃描電鏡所屬用途: 金相組織觀察
          應用領域:
          產品特性: 掃描電鏡JSM-IT100,不僅保持了InTouchScope系列廣受好評的可操作性,還擁有與高 端機型相媲美的可擴展性.JSM-IT100 的占地空間近乎臺式電鏡,分辨率可與高 端機型媲美,能支持范圍廣泛的分析。

          日本電子掃描電鏡JSM-IT100

          操作直觀

           

          JSM-IT100 的圖形用戶界面使掃描電鏡的操作更加直觀,簡潔精煉的界面設置,能助電鏡新手一臂之力。

           

          觀察畫面大,操作舒 適,容易捕捉觀察視野中的細節信息。支持觸控屏功能,操作直觀。

          獲取數據僅需三步:1 交換樣品 2 自動調整 3 拍攝

           

          自動設置條件

          標準菜單功能(Standard Recipe)凝聚了JEOL 的經驗和技術,包括了各個領域的觀察條件。利用標準

          菜單(Standard Recipe)設定條件,JSM-IT100 可支持任何樣品的觀察和分析。

           

          數據管理&生成報告

          能確認和再現成像時的條件并返回獲取圖像的位置進行重復測試。用 Report 按鈕能將獲取的圖像用專

          用的圖像編輯軟件立即生成報告書,能迅速地將必要的信息傳遞給對方,高 效利用時間,獲取的數據可

          以從相冊的圖像中直觀地確認。

           

          JSM-IT100 功能強大

           

          小型高性能 SEM

          JSM-IT100 的占地空間近乎臺式電鏡,分辨率可與高 端機型媲美,能支持范圍廣泛的分析。

          ?利用二次電子像觀察結構

          ?低加速電壓下依然性能超群

          ?高靈敏度背散射電子檢測 器 (LV/LA標配)

           

          標配豐富的功能
          ?無縫自動偏壓
          ?消像散記憶
          ?可變焦聚光鏡
          ?全對中樣品臺
          ?測長
          ?多圖像顯示
          ?用戶日志

           

          豐富的 EDS 功能

           

           

          JSM-IT100 提供的直觀操作,同樣也適用于 EDS 分析,利用 EDS 導航器能順利地進行定量分析、
          定性分析和元素面分布,只需很少的步驟就可執行豐富的分析功能,新手也能輕松駕馭。標配的
          active map 程序,能使數據采集后的分析輕松自如。獲得軟件授權許可后,在其它的電腦上也可以
          進行分析,該功能也能滿足專 業用戶的需求。

           

          ? 測試組成元素

          ? 測試特定點的組成元素

          ? 測試指定線上的元素分布

          ? 觀察組成元素的分布

          ? 支持各種測試:(1)電子束追蹤(2)實時過濾(3)Qbase

          JSM-IT100 選配件

           

          馬達驅動樣品臺(選配件)

          安裝該樣品臺,可以利用點擊置中等自動樣品臺控制功能,與樣品臺導航系統相結合,尋找視場將會更加迅速,安 全鎖會扣緊各種尺寸的樣品,讓你盡可放
          心使用。

           

          樣品室觀察系統(選配件)

          樣品載入 SEM 樣品室后,樣品室觀察系統能對樣品的狀態進行監控,也能順利地觀察表面起伏很大的樣品.

           

          操作面板(選配件)-支持旋鈕操的用戶。

           

          低真空模式(LV/LA標配)的應用

          利用低真空模式(LV 模式)能提高樣品室內壓力、中和樣品表面電荷,直接觀察未鍍膜不導電樣品。適合觀察和分析的樣品包括 :貴重的文化財產、已經預定用其它分析儀器測試的樣品及無法噴涂導電層的樣品等。

           

          30 kV的應用(選項)

          利用加速電壓 30kV 選配項,分析范圍將會更寬。

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